| アナリティカルニュース 94(2013年1月発行) |
| トピックス |
「セミコンジャパン」出展のご報告 |
DATUM
INFORMATION |
キャンペーンのお知らせ
卓上走査電子顕微鏡 JCM-6000 NeoScopeTM
「2012分析機器ユーザーズミーティング(NMR/MS)」開催
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| 新製品紹介 |
加熱・印加および液中のその場観察試料ホルダー
TEM用試料ホルダー AduroTM、PoseidonTM |
| 新製品紹介 |
集束イオンビーム加工観察装置 JIB-4000の紹介 |
| 技術情報 |
LC/ MS条件の最適化 測定 のノウハウを知る |
アプリケーション
ノート |
JMS-S3000“SpiralTOF” TOF -TOF オプションを用いた解析
飛行時間型質量分析計 JMS-S3000MALDI-SpiralTOF |
講習会
スケジュール |
電子光学機器・分析機器 |
| ダウンロード |
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