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 アナリティカルニュース

JEOLグループは、お客様への最新技術情報、学会・展示会情報、当社主催のセミナー・講演会・ユーザーズミーティング情報、製品別の講習会情報などを『アナリティカルニュース』として、年4回発行しています。
ご自由にダウンロード下さい。

※次回発行予定 95 2013年4月下旬

ANA94号PDFが開きます
アナリティカルニュース 94(2013年1月発行)
トピックス 「セミコンジャパン」出展のご報告
DATUM
INFORMATION
  • キャンペーンのお知らせ
  • 卓上走査電子顕微鏡 JCM-6000 NeoScopeTM
  • 「2012分析機器ユーザーズミーティング(NMR/MS)」開催
  • 新製品紹介 加熱・印加および液中のその場観察試料ホルダー
    TEM用試料ホルダー AduroTM、PoseidonTM
    新製品紹介 集束イオンビーム加工観察装置 JIB-4000の紹介
    技術情報 LC/ MS条件の最適化 測定 のノウハウを知る
    アプリケーション
    ノート
    JMS-S3000“SpiralTOF” TOF -TOF オプションを用いた解析
    飛行時間型質量分析計 JMS-S3000MALDI-SpiralTOF
    講習会
    スケジュール
    電子光学機器・分析機器
    ダウンロード

    ANA94号PDFが開きます(2.46MB)


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