日本電子が60年の歴史の中で培った経験と実績。
理科学機器メーカーだからこそできる最新の分析技術と高性能装置で、専門スタッフがニーズにあった分析をサポートします。

〜分析サービスのご依頼スタイルは3タイプ〜

走査電子顕微鏡（SEM）、透過電子顕微鏡（TEM）、電子プローブマイクロアナライザ（EPMA）、走査プローブ顕微鏡（SPM）、オージェマイクロプローブ、光電子分光装置、質量分析計（MS）、核磁気共鳴装置（NMR）

• 研磨法
• CPによる断面試料作製
• ミクロトームによる断面試料作製
• イオンミリング法
• 超薄切片法（ミクロトーム法）
• 凍結切片法（クライオミクロトーム法）
• 凍結割断レプリカ法
• クライオTEM法
• 急速凍結法
• シャドウイング法
• ネガティブ染色法
• 生物試料作製

• 断面作製装置（CP、ミクロトーム■ ■ ■、TXP）
• 薄膜作製装置（ミクロトーム■ ■ ■、PIPS、IS）
• 金属蒸着装置（Au、Pt、W、Cr、Os、C）
• 凍結乾燥装置
• 臨界点乾燥装置
• 凍結割断レプリカ作製装置（JFDII）
• 急速凍結装置（CPC）
• 加圧凍結装置（EM-PACT2）
• アルゴン酸素プラズマクリーナー